Font awesome My CSS

Яндекс.Метрика

Contact form modal

Наше оборудование

Наша лаборатория оснащена современным оборудованием для решения широкого круга исследовательских задач.

Подробнее о нас

Дифференцирующая сканирующая калориметрия
Термогравиметрический анализ

SDT Q600 представляет собой совмещенный ТГА/ДСК/ДТА анализатор, который позволяет одновременно регистрировать изменения массы образца и процессы, сопровождающиеся выделением или поглощением тепла. Комбинируя информацию ТГА и ДСК можно достаточно точно определить, является ли найденный тепловой эффект реакцией разложения, окисления или фазовым переходом. Высокая точность ДСК, ДТА и ТГА позволяет использовать SDT Q600 для определения теплот и температур фазовых переходов, изучения сложных смесей, анализа эластомеров, металлов, керамик, композиционных материалов и многого другого.

Особые требования к образцам: Размер твердого образца меньше 4мм. К жидким и сыпучим образцам особых требований нет.

Атомно-эмиссионная спектрометрия

Атомно-эмиссионная спектрометрия -высокочувствительный метод идентификации и количественной оценки содержания элементов и примесей в газообразных, жидких и твердых веществах, в том числе и в высокочистых. Предел определения прибора для 66-и элементов менее 1 мкг/л.

Особые требования к образцам: образцы должны быть неорганическими жидкостями, либо быть растворимыми в неорганических жидкостях (кислоты, вода, перекиси, щелочи)

Атомно-силовая микроскопия

Атомно-силовой микроскоп позволяет получать изображение объектов с увеличением 500’000 крат. Применяется для определения наноскопической морфологии (рельефа) поверхности, позволяет исследовать практически любой тип твердых поверхностей. В отличие от любого другого типа микроскопов, на АСМ можно получить трехмерное изображение поверхности и информацию о ее шероховатости. АСМ позволяет определять размеры и форму наночастиц содержащихся в растворе или порошке. Жидкостная ячейка микроскопа позволяет проводить исследование биологических объектов в жидкости, таких как клетки и бактерии в процессе их жизнедеятельности. Электрохимическая приставка позволяет регистрировать изменение поверхности электрода в ходе электрохимической реакции на нано и микро уровне. Разрешение MultiMode V составляет 10 нм, что позволяет изучать широкий спектр нанообъектов

Особые требования к образцам: Для твердых образцов величина перепада высот на поверхности образца не более 5 мкм., размеры образца не более 15*15*15мм

Сканирующая электронная микроскопия

СЭМ применим для изучения электропроводящих поверхностей неорганических, органических и биологических объектов. Изображение формируется путем регистрации отраженных или рассеянных образцом электронов в процессе сканирования его поверхности сфокусированным электронным пучком. Благодаря режиму управляемого вакуума, возможно изучение живых биологических объектов в парах воды.

 

Просвечивающая электронная микроскопия

Изображение ПЭМ формируется путем регистрации электронного пучка проходящего через тонкий образец (толщиной порядка 0,2 мкм). Для регистрации изображения используется очень чувствительная цифровая камера с высоким разрешением, что позволяет исследовать образцы чувствительные к электронному облучению. Увеличение составляет свыше 1 млн. крат. ПЭМ применим как для изучения неорганических объектов, таких как углеродные нанотрубки, наночастицы металлов, так и органических, и биологических, таких как срезы клеток или бактерий.

 

Атомно-абсорбционная спектрометрия

ContrAA 700 - высокоточный атомно-абсорбционный спектрометр, предназначенный для проведения микроанализа содержания металлов и неметаллов в жидких и растворенных образцах. Спектрометр подходит для определения следовых количеств различных элементов в образце.

 

Конфокальная микроскопия

Конфокальный микроскоп — оптический микроскоп, обладающий значительным контрастом по сравнению с обычным микроскопом. Конфокальный микроскоп позволяет исследовать ткани на клеточном уровне в состоянии физиологической жизнедеятельности, регистрировать процессы в режиме реального времени. За счет большой глубины фокусировки, микроскоп позволяет регистрировать трехмерную структуру поверхности исследуемого объекта, оценить шероховатость. Оптическое разрешение данного микроскопа составляет 1 мкм.

 

Порошковая дифрактометрия

Порошковый дифрактометр осуществляет анализ кристаллических фаз вещества. Наличие баз дифрактограмм, содержащих более 760000 уникальных наборов данных по различным веществам, позволяет определить состав кристаллических фаз пробы. Вертикальный (θ-θ) гониометр позволяет проводить исследование как твердых образцов, так и вязких жидкостей. Предел чувствительности прибора порядка 3% содержания фазы в пробе.

 

Разрывная машина

Применяется для измерения силы и изменений линейных размеров образцов при испытаниях на растяжение, сжатие, изгиб широкого круга материалов: металлов, шнуров, нитей, кабелей, тросов, композитов, сплавов, пластиков, эластомеров, текстильных волокон и изделий из них. Испытательные машины класса AI-3000 применяются в задачах исследования полимеров и эластомеров, при исследовании прочностных и нагрузочных характеристик натуральных и искусственных материалов, в легкой промышленности и других отраслях. Испытательная машина полностью совместима с российскими и международными стандартами испытаний ISO, ASTME, DIN, ГОСТ и др. Наибольшая предельная нагрузка составляет 5кН при относительной погрешности измерения нагрузки не более 0,5%.

Для резин, эластомеров и герметиков образец должен быть длиной более 120 мм, шириной более 30мм, толщиной 2 ± 0,2 мм. Образцы не должны иметь неоднородностей, надрывов и включений, видимых невооруженным взглядом.

Пробоподготовка

Система деионизации воды Millipore предназначена для получения высоко чистой деионизованной воды.
Система микроволнового разложения предназначена для растворения образцов, не поддающихся растворению в нормальных условиях. Применяется для пробоподготовки в методах атомно-эмиссионной и атомно-абсорбционной спектроскопии.
Микротом предназначен для подготовки образцов к исследованию методом просвечивающей электронной микроскопии. Например, для изготовления тонких срезов, полировки и утонения образцов.

 

Цена услуг зависит от трудоемкости исследований

и стоимости расходных материалов.

Максимальные расценки за один образец:

 
№ п.п. Услуга Стоимость, руб.
1 Элементный анализ на атомно-эмиссионном спектрометре iCAP 6300 DUO 3890
2 Элементный анализ на атомно-абсорбционном спектрометре ContrAA 700 4200
3 Исследование на атомно-силовом микроскопе MultiMode V 3190
4 Исследование на термоанализаторе SDT Q600 1920
5 Исследование на порошковом рентгеновском дифрактометре XRD-7000S 2980
6 Исследование на просвечивающем электронном микроскопе HT 7700 5390
7 Исследование на сканирующем электронном микроскопе EVO LS-10 2710
8 Исследование на конфокальном микроскопе Leica DMC 3D 2210
9 Подготовка образца на микротоме Leica EM TXP 3D 790
10 Исследование на ЯМР спектрометре «Тесла» 960